薄膜測(cè)厚儀是一種薄膜厚度測(cè)量?jī)x器，已經(jīng)在很多行業(yè)得到應(yīng)用，方便了很多人的測(cè)量工作。那么你對(duì)它有什么了解呢？

　　1、測(cè)量范圍廣

　　膜厚儀的測(cè)量范圍很廣，可以從薄膜到厚膜測(cè)量厚度，不會(huì)因測(cè)量材料的變化而給厚度測(cè)量操作帶來任何不便。

　　2、先進(jìn)的厚度分析方法

　　膜厚測(cè)量?jī)x的厚度分析方法采用絕對(duì)反射光譜分析方法，與其他類型的測(cè)厚儀相比，在測(cè)量精度和測(cè)量速度方面具有顯著優(yōu)勢(shì)。

　　3、操作簡(jiǎn)單

　　膜厚儀采用人性化設(shè)計(jì)，使儀器膜厚的測(cè)量更加容易，無需復(fù)雜的測(cè)量操作，相關(guān)測(cè)量人員只需進(jìn)行簡(jiǎn)單的操作設(shè)備操作培訓(xùn)。

　　4、外觀新穎

　　測(cè)量?jī)x的外觀也進(jìn)行了全新的設(shè)計(jì)。整體外觀更加*新穎。相較于傳統(tǒng)測(cè)厚儀呆板的外形，更吸引了人們的眼球。

　　5、實(shí)現(xiàn)光學(xué)常數(shù)分析功能

　　膜厚儀采用非光學(xué)數(shù)據(jù)分析方法，實(shí)現(xiàn)了光學(xué)常數(shù)的分析，不僅加快了測(cè)厚速度時(shí)間，而且還進(jìn)一步提高了其精度，為人們提供了更準(zhǔn)確的膜厚測(cè)量數(shù)據(jù)。

　　薄膜測(cè)厚儀要考慮的測(cè)量參數(shù)都有哪些？

　　1、測(cè)量波長(zhǎng)

　　薄膜測(cè)厚儀的測(cè)量波長(zhǎng)在450nm-780nm之間，更寬的波長(zhǎng)測(cè)量范圍可以實(shí)現(xiàn)更快的光學(xué)測(cè)厚過程。

　　2、測(cè)量精度

　　本測(cè)量?jī)x的測(cè)量精度在0.2nm誤差范圍內(nèi)。

　　3、鹵素?zé)?/div>